OVERVIEW

 

overview

 

นอกจากความเป็นเลิศด้านการบริการแล้ว เรายังให้ความสำคัญกับผลิตภัณฑ์เป็นพิเศษ เริ่มตั้งแต่กระบวนการผลิตไปจนถึงขั้นตอนการทดสอบผลิตภัณฑ์เพื่อให้ได้มาตรฐานระดับสากล สู่ประสิทธิภาพสูงสุดในการทำงานขององค์กรคุณ ผลิตภัณฑ์เด่นภายในศูนย์ฯ มีดังนี้

 

 

Products List

rss
image
more

ระบบเซ็นเซอร์เพื่อการเกษตร (เกษตรยุคใหม่)

 

ปัจจุบันอุตสาหกรรมในหลายๆ ด้าน มีการใช้อุปกรณ์และระบบอิเล็กทรอนิกส์ รวมถึงเซ็นเซอร์ต่างๆ มาช่วยทำให้การผลิตเกิดประสิทธิภาพและประสิทธิผลมากขึ้น ในที่นี้จะกล่าวถึงเฉพาะอุตสาหกรรมด้านการเกษตรเป็นหลัก

Post on 2016-02-25 | View 13883

 

image
more

หัววัดความชื้นในอากาศ (Humidity Sensor)

 

Humidity Sensor ซึ่งผลิตโดยเทคโนโลยี CMOS มาตรฐาน ที่สามารถผลิตได้เพียงแห่งเดียวในประเทศไทย โดยคุณสมบัติและคุณภาพของอุปกรณ์ที่ผลิตโดยเทคโนโลยี CMOS นี้ จะมีความทนทาน ความแม่นยำ และมีอายุการใช้งานที่ยาวนานกว่าอุปกรณ์ที่ใช้เทคโนโลยีที่ต่ำกว่า รวมถึง สามารถออกแบบอุปกรณ์ให้เหมาะสำหรับการใช้วัดค่าความชื้นสัมพัทธ์อากาศ หรือ

Post on 2015-05-07 | View 6219

 

image
more

Solar Tracker Sensor

 

Solar tracker sensor ของ TMEC เป็นการนำ pnp โฟโตทรานซิสเตอร์มาต่อกันเป็นอาเรย์ โดยใช้ติดตั้งเข้ากับแผงโซล่าเซลล์ หรือระบบทำความร้อนจากแสงอาทิตย์ เพื่อปรับมุมของระบบเหล่านั้นให้ตั้งฉากกับดวงอาทิตย์ ซึ่งจะส่งผลให้ได้พลังงานเอาท์พุทสูงสุดอยู่เสมอ

Post on 2013-01-11 | View 7497

 

image
more

ISFET (Ion-Sensitive Field Effect Transistor)

 

อุปกรณ์ ISFET (ion-sensitive field effect transistor) เป็นอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำสร้างขึ้นด้วยเทคโนโลยีกระบวนการผลิต CMOS โดยหลักการทำงานพื้นฐานอุปกรณ์ ISFET เมื่อต่อร่วมกับขั้วไฟฟ้าอ้างอิง Ag/AgCl จากภายนอก สามารถตรวจวัดปริมาณไฮโดรเจนไอออนหรือค่าพีเอชได้ทันที

Post on 2013-01-11 | View 11104

 

image
more

เซ็นเซอร์ตรวจวัดความดัน (Pressure Sensor)

 

อุปกรณ์ตรวจวัดความดันของก๊าซหรือเหลว โดยเซ็นเซอร์จะส่งสัญญาณทางไฟฟ้าที่มีความสัมพันธ์กับความดัน สำหรับเซนเซอร์ของ TMEC คือ รุ่น TMPSI เป็นเซนเซอร์ที่มีโครงสร้าง แบบ piezo-resistive micro-machine pressure sensor ซึ่งมีความแม่นยำสูง และการตอบสนองเป็นเชิงเส้นดี สามารถวัดระดับแรงดันได้ในช่วง 0-10 bars และ 0-15 bars

Post on 2012-11-20 | View 30048

 

OUR RESEARCH

OUR RESEARCH

Extraction of Defect in Doping Silicon Wafer by Analyzing the Lifetime Profile Method

Post on 2009-06-14

 

 

The total leakage current in silicon p-n junction diodes compatible with 0.8 μm CMOS technology is investigated. The generation lifetime is a key parameter for the leakage curre...

Details

 

Products

 

Services

 

Knowledge Center

 

Request Form